介質(zhì)損耗是由鼎升電力自主加工生產(chǎn),如果您有介質(zhì)損耗等相關(guān)方面技術(shù)問題,請咨詢鼎升電力技術(shù)部,同時,我們可根據(jù)您對介質(zhì)損耗的功能需求,定制開發(fā),聯(lián)系電話: 027-87875698
在電力預防性試驗項目中,針對變壓器電壓等級為35kv及以上并且容量在8000kvA及以上的電力變壓器,要求測量變壓器的介質(zhì)損耗角正切值tanδ,是電氣設(shè)備交接試驗標準中明確規(guī)定,測量結(jié)果必須符合以下要求:
被測繞組的tanδ值不大于產(chǎn)品出廠試驗值的130%;
溫度影響:首先明確的說,溫度對介質(zhì)損耗測量結(jié)果有直接的影響,影響的程度隨著絕緣材料,設(shè)備結(jié)構(gòu)的不同而異,一般情況,tanδ會隨著溫度的升高而變大,測量過程中應當將在不同溫度下測量得出的結(jié)果換算至20℃時,在進行比較。
受試驗電壓的影響: 理論情況下,良好絕緣的tanδ不隨試驗電壓的升高而明顯增長,如果內(nèi)部有缺陷,則tanδ值會隨試驗電壓的升高而明顯增長
tanδ與試品電容的關(guān)系影響:對于電容較小的設(shè)備(套管、互感器、耦合電容器等)測量tanδ值有效的發(fā)現(xiàn)局部集中性和整體分布性的缺陷,但是對于電容量較大的設(shè)備,測量介質(zhì)損耗只能發(fā)現(xiàn)絕緣的整體分布性缺陷,原因是因為,局部集中性的缺陷引起的損耗增加只占總損耗的極小部分,這也是tanδ不能反應大容量被試品局部集中性缺陷的原因,也是大型變壓器除了測量本體介質(zhì)損耗之外還需要測量單套管tanδ的原因。
下圖是介質(zhì)損耗角正切值tanδ(%)溫度換算系數(shù)表:
陶瓷表面受潮,瓷套表面電阻的大小直接影響介質(zhì)損耗測量的準確度,主要是因為表面電阻與體積電阻并聯(lián)在一起,當采用介質(zhì)損耗測試儀反接法時, 介質(zhì)損耗tanδ值會偏大,所以在測量之前,用干毛巾,電吹風或者遠紅外烘烤表面,也可以用揮發(fā)性較強的液體清洗表面,可以有效的預防tanδ值偏大的問題。
電場干擾,干擾電流與被試電流之間的干擾,使tanδ測量結(jié)果大于實際值,此時,應當采用試驗電源移項法測量tanδ值,建議用抗干擾介質(zhì)損耗測試儀或者異頻介質(zhì)損耗測試儀進行測量。
被試品Cx接地回路不良也會影響值的大小。